平坦度测试仪

详细内容：
尼德克平坦度测量仪
高精度数码平坦度测量仪
MODEL:FT-17采用最新的画像处理技术和各种新技术所开发的高精度数码平坦度测试仪，由激光倾入射的干涉仪计对所形成的干涉条纹的相位图进行画像分析，所形成的各种计算数据的仪器。测定结果可以表示为、测定值、等高图线、鸟瞰图、断面图等。
测定方法 光波干涉仪方式（倾斜入射）
光源 半导体激光（655nm、3mw）
测量尺寸 130mm、平面度测定在100mm
测量厚度 2000um（平坦度测定25um-1000um）
倾斜角度 比垂直向前倾斜8度
干涉计设定感度 1、2、3、4、5um/线距
测定范围 线距感光的30倍（线距状况、有比镜片尺寸等30倍）
表示分解能 0.01um
重复精度 0.02s+0.02m（um）
有效画素 640*480画素
测定时间 15秒
本体尺寸 521*485*438
特长：
1.FT-17系列是外径130mm，对于多重干涉线，独有的相位图像解析
2.可测试晶片（硅、化合物、酸化物、玻璃）、金属片、磁碟（铝、玻璃）模具、镜面及非镜面
关于透明样片的解析是可以降低背面干涉仪进行测定。
以晶片用的GBIR(TTV)基准面自动算出功能可以测定高精度GBIR(TTV)、用卡具吸着面、晶片测定的直接干涉计测定（PAT.Pend）
3.以专用解析装置控制程序使操作变形容易
4.定期点检时的感度确认后只需对客户的样片进行点检便可使用装置。
5.对透明晶片用背面干涉条纹厚度进行高精度解析，并且使用此机能不用吸着盘便可进行测定。
地址: 东莞市茶山镇增埗村麒麟城工业区新益大厦宏诚光学（集友工业村对面）(联系我时，请说明是在博发网看到的，谢谢！)